
近年来,半导体探测器、闪烁体、光电探测器(如硅光电倍增管(SiPM))和读数电子学在基础技术和各种应用方面取得了巨大的进步。这本书的第二版辐射探测系统介绍各种辐射探测系统,使读者广泛了解探测器、前端电子设备和系统的最先进设计,为特定应用提供最佳的探测工具选择。新版分为两册。这第一卷,上传感器材料,系统,技术和表征测量重点介绍了传感器材料、探测器结构、前端电子技术及其设计,以及针对不同应用的系统优化。此外,书包括发展的检测系统的表征测量。本书介绍了在各自领域的领先专家和先锋的贡献
•介绍碲化镉锌(CdZnTe)和碲化镉(CdTe)材料生长技术的进展
•展示了各种特定的探测器结构设计及其与前端放大/处理电子的集成
提出了基于CdZnTe和CdTe探测器技术的检测系统,针对特定应用进行了优化。设计的系统在其光谱响应、空间和时间分辨率方面具有特点
•解决不完整的电荷收集,脉冲堆积,相邻探测器像素之间的电荷共享和其他现象,可以降低光子计数探测器的光谱响应
•报告了用于读取闪烁体光线的硅光电倍增管的新发展,这开始对新型医疗器械的设计概念产生重大影响
与它的新材料和创新的新系统方法的结合覆盖,以及最近的发展的一个简洁的概述,这本书是任何工程师,专业人员,或学生在电子或相关领域工作的宝贵的工具。读者可以参考第二本书来详细了解检测系统在医学成像、工业测试和安全应用中的更具体的应用。
近年来,半导体探测器、闪烁体、光电探测器(如硅光电倍增管(SiPM))和读数电子学在基础技术和各种应用方面取得了巨大的进步。这本书的第二版辐射探测系统介绍各种辐射探测系统,使读者广泛了解探测器、前端电子设备和系统的最先进设计,为特定应用提供最佳的探测工具选择。新版分为两册。这第一卷,上传感器材料,系统,技术和表征测量重点介绍了传感器材料、探测器结构、前端电子技术及其设计,以及针对不同应用的系统优化。此外,书包括发展的检测系统的表征测量。本书介绍了在各自领域的领先专家和先锋的贡献
•介绍碲化镉锌(CdZnTe)和碲化镉(CdTe)材料生长技术的进展
•展示了各种特定的探测器结构设计及其与前端放大/处理电子的集成
提出了基于CdZnTe和CdTe探测器技术的检测系统,针对特定应用进行了优化。设计的系统在其光谱响应、空间和时间分辨率方面具有特点
•解决不完整的电荷收集,脉冲堆积,相邻探测器像素之间的电荷共享和其他现象,可以降低光子计数探测器的光谱响应
•报告了用于读取闪烁体光线的硅光电倍增管的新发展,这开始对新型医疗器械的设计概念产生重大影响
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